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镀层测厚仪测量需具备的条件
发布时间:2018-06-15   点击次数:117次
   镀层测厚仪测量需具备的条件
  镀层测厚仪采用X射线荧光的工作原理是,X 射线管产生初级射线照射在受检物质时,会激发物质放射X-射线萤光辐射,特定的元素有特定的辐射信号,接收器便会记录这些能量光谱。不需要先对样品进行处理便能测量,样品可直接放入测量室进行测量。镀层测厚仪由于可测量的元素范围从铝至铀,X射线的应用范围从工业应用伸展到科学应用。镀层测厚仪可应用于治金学、地质学、鉴证学或自然科学等,在工业方面,广泛用于五金电镀、电子半导体、PCB线路、首饰珠宝、卫浴、汽配的成份分析和镀层测量方面。
  镀层测厚仪的测量原理:
  镀层测厚仪采用磁感应原理时,利用从测头经过非铁磁覆层而流入铁磁基体的磁通的大小,来测定覆层厚度。镀层测厚仪也可以测定与之对应的磁阻的大小,来表示其覆层厚度。覆层越厚,则磁阻越大,磁通越小。利用磁感应原理的测厚仪,原则上可以有导磁基体上的非导磁覆层厚度。
  用镀层测厚仪时,测量准确需具备什么条件?具体如下:
  1.基体金属特性
  对于磁性方法,标准片的基体金属的磁性和表面粗糙度,应当与试件基体金属的磁性和表面粗糙度相似。
  对于涡流方法,标准片基体金属的电性质,应当与试件基体金属的电性质相似。
  2.基体金属厚度
  检查基体金属厚度是否超过临界厚度,如果没有,可采用方法进行校准。
  3.表面清洁度。镀层测厚仪测量前,应清除表面上的任何附着物质,如尘土、油脂及腐蚀产物等,但不要除去任何覆盖层物质。
  4.边缘效应。不应在紧靠试件的突变处,如边缘、洞和内转角等处进行测量。
  5.曲率。不应在试件的弯曲表面上测量。
  6.读数次数。通常由于镀层测厚仪的每次读数并不完全相同,因此必须在每一测量面积内取几个读数。覆盖层厚度的局部差异,也要求在任一给定的面积内进行多次测量,表面粗造时更应如此。
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